最新傳感器內(nèi)核基于硅帶隙原理，與當(dāng)今業(yè)界所有溫度檢測IC的原理相同。事實上，作為該技術(shù)的開拓者，ADI早在1978年就推出了業(yè)界經(jīng)典的AD590?；陂_發(fā)AD590后積累的經(jīng)驗，ADI進(jìn)一步優(yōu)化溫度內(nèi)核，結(jié)合領(lǐng)先的精密Σ-Δ型ADC技術(shù)實現(xiàn)了極高精度。除了優(yōu)化設(shè)計外，ADI更開發(fā)出測試功能，使傳感器可在高精度規(guī)格下執(zhí)行可靠測試。
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